Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne

Qualité du service-après-vente (10%) Sous-critère 1 : Contenu de la garantie proposée (5%) Sous-critère 2 : Délais et modalités d'assistance à distance et d'intervention sur site en cas de dysfonctionnement, durée de vie et disponibilités des pièces détachées, équipe technique, (5%)