Fourniture d’un outil de mesure de couches minces compatible avec wafers de 200 mm et 300 mm
description Objet du marché
Fourniture d’un outil de mesure de couches minces compatible avec wafers de 200 mm et 300 mm
auto_awesome Résumé IA du RC
Ce résumé a été généré par intelligence artificielle à partir du Règlement de Consultation. Il peut contenir des inexactitudes — consultez toujours les documents originaux.
target Objet du marché
- • Nature de la fourniture : Le marché porte sur la fourniture d’un outil de mesure de couches minces compatible avec wafers de 200 mm et 300 mm.
- • Périmètre géographique : Le marché est mis en place par le CEA à Grenoble.
- • Allotissement : Le marché concerne un équipement unique ne permettant pas l’identification de prestations distinctes, il n’est donc pas allotissable.
checklist Candidature et critères
- • Documents de candidature : Le dossier de candidature doit comprendre le formulaire DC1 ou lettre de candidature, le formulaire DC2 ou équivalent, et une attestation d’autonomie commerciale si applicable.
- • Capacités à justifier : Les candidats doivent justifier leur capacité économique, financière, technique et professionnelle par des déclarations de chiffre d’affaires, attestations bancaires, liste des principales livraisons et descriptions des équipements proposés.
- • Offre technique et commerciale : L’offre doit inclure une offre technique détaillée, une offre environnementale, une offre commerciale avec prix fermes et forfaitaires, ainsi que les attestations d’assurance et projet de marché signé.
- • Critères d’attribution pondérés : Les critères sont le prix de l’équipement (45 %), la performance économique du coût de maintenance full service (10 %), les spécifications métrologie (gamme spectrale 5 %, mesure itérative 2,5 %, autres spécifications 25 %), et la configuration hardware et software (mesure en manuel 5 %, accès aux données brutes 2,5 %, autres configurations 5 %).
folder_open Pièces à fournir
balance Critères d'attribution
| Critère | Pondération |
|---|---|
| Prix de l’équipement | 45 % |
| Performance économique du coût de la maintenance en full service proposée | 10 % |
| Gamme spectrale (Capa 1 et Capa 2) | 5 % |
| Mesure itérative (Test 12 du §2.3) | 2.5 % |
| Autres spécifications métrologie (ensemble des tests de 1 à 38) | 25 % |
| Mesure en manuel (2 du §3.1.1) | 5 % |
| Accès aux données brutes (7 du §3.1.1) | 2.5 % |
| Autres configurations hardware (§3.1) | 5 % |
event_upcoming Dates et vigilance
- • Date limite de remise des candidatures : Le 1er juillet 2026 avant 14h00.
- • Date limite de remise des offres : La date sera indiquée dans l’invitation à soumissionner et fixée d’un commun accord avec les soumissionnaires retenus, avec un délai minimum de 10 jours après l’envoi de l’invitation.
- • Modalités de remise : Les candidatures et offres doivent être transmises via la plateforme dématérialisée PLACE, avec possibilité d’une copie de sauvegarde sur support papier ou électronique.
- • Variantes autorisées : Une variante économique est autorisée, consistant en une offre alternative avec pièces reconditionnées, à condition d’atteindre les mêmes spécifications techniques et garanties.
engineering Résumé IA du CCTP 2 crédits
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folder_open Documents de consultation (DCE)
2. DCE CANDIDATURES.zip
Pièce du dossier · 3.52 MB
RC-B26-00364-ST.pdf
Règlement de consultation · 393 KB
Dossier de Consultation des Entreprises
Disponible sur le profil acheteur