Lot n°01
Fournitures
Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
Acheteur
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Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives
Code CPV
tag
31712100 — Machines et appareils microélectroniques
Durée
schedule
8 mois
Lieu d'exécution
location_on
38054 Grenoble
description Description
La consultation comprend :
- La la fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB).
- Des options :
o Formation à la maintenance 1er niveau
o Porte échantillons supplémentaires
o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard)
o Refroidissement des échantillons sans azote
o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé
o Formation à la maintenance avancée
location_on Lieu d'exécution
CEA Grenoble - Conditions d'accès règlementées
Grenoble 38054
Code NUTS : FRK24
Pays : FRA
schedule Durée
8 mois