Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
description Objet du marché
La consultation comprend :
- La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB),
- Des options :
o Formation à la maintenance 1er niveau
o Porte échantillons supplémentaires
o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard)
o Refroidissement des échantillons sans azote
o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé
o Formation à la maintenance avancée
Résumé IA et analyse du marché
Générez un résumé IA du dossier de consultation et une analyse du CCTP avec un abonnement Pro.
view_agenda Allotissement (1 lots)
01 Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électroni... Actif expand_more
Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
La consultation comprend :
- La la fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB).
- Des options :
o Formation à la maintenance 1er niveau
o Porte échantillons supplémentaires
o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard)
o Refroidissement des échantillons sans azote
o Possibilité de …
Documents de consultation (DCE)
Accédez aux documents du dossier de consultation avec un abonnement Pro.
emoji_events Attribution
Les informations d'attribution sont réservées aux abonnés Pro.
workspace_premium Voir les tarifs